User Manual

IT
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Meccanismo
spettrale:
Tecnologia i1® (reticolo a diffrazione olografica con matrice di fotodiodi
128 pixel)
Intervallo spettrale: 380 - 730 nm
Intervallo fisico di campionamento: 3,5 nm
Risoluzione ottica: 10 nm
Rapporto spettrale: 380 nm ... 730 nm in passi di 10 nm
Frequenza di misurazione in modalità
di scansione: 200 misurazioni per secondo
Gruppo ottico:
Geometria di misurazione: 45°/0° ottica d’illuminazione circolare, ISO 13655:2009
Apertura di misurazione: Diametro di 4,5 mm (0.18”)
(l’apertura di misurazione reale durante la scansione dipende dalle
dimensioni dei patch e dalla velocità di misurazione)
Dimensione punto d’illuminazione: 3,5 mm (0.14”)
Fonte di luce: lampada al tungsteno con gas inerte (illuminante tipo A)
Misurazione
della
riflettanza: riflettanza spettrale [adimensionale]
Condizione di misurazione: Filtro UV escluso - ISO 13655:2009 condizione di misurazione M2
Calibrazione: manuale su riferimento ceramico bianco
Sfondo di misurazione: bianco, ISO 13655:2009; per misurazioni sulla base di appoggio
Spessore massimo della carta: 3 mm (0.12”) sulla base di appoggio
Dimensioni minime dei patch in
modalità di scansione:
10 mm x 10 mm (0,39” x 0,39”) (larghezza x altezza)
Concordanza interstrumentale: media di 0.4 E94*, massima di 1.0 E94*
(deviazione dallo standard di fabbricazione X-Rite a 23 °C (73.4 °F) su 12
ceramiche BCRA (D50, 2°))
Ripetibilità a breve termine: 0.1 E94* su bianco (D50, 2° rispetto al valore medio di 10 misurazioni
ogni 3 secondi su bianco)
Misurazione
dell’emissione: radianza spettrale (mW/nm/m
2
/sr); luminanza (cd/m
2
)
Intervallo di misurazione: 0,2 - 1200 cd/m
2
su un monitor LCD tipico
Ripetibilità a breve termine: x,y ±0.002 tipica (5000 K, 80 cd/m
2
)
Misurazione
della luce
ambiente:
radianza spettrale (mW/nm/m
2
); illuminanza [lux] testina di misurazione
della luce diffusa organizzata da coseno
Interfaccia:
USB 1.1
Specifica