User Manual

DE
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Technische Daten
Spektral-
technologie:
i1
®
-Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem 128-Pixel-
Diodenraster)
Spektralbereich 380 - 730 nm
Physikalisches Messintervall 3,5 nm
Optische Auflösung 10 nm
Spektrale Auflösung 380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
Messfrequenz im Scanmodus 200 Messungen pro Sekunden
Optik:
Messgeometrie 45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2009
Messblende 4,5 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
Messfleckgröße 3,5 mm
Lichtquelle Gasgefüllte Wolfram-Glühlampe (Typ A)
Reflexions-
messung: spektrale Reflexion (dimensionslos)
Messbedingung UVCut - ISO 13655:2009 Messung M2
Kalibrierung: Manuell auf externer Weißkachel
Messunterlage weiß, ISO 13655:2009 bei Verwendung der mitgelieferten Messunterlage
Max. Bedruckstoffstärke 3 mm auf der Messunterlage
Min. Messfeldgröße im Scanmodus 10 x 10 mm (Breite x Höhe)
Messgeräteübereinstimmungt 0,4 ∆E94* im Mittel, max. 1,0 ∆E94*
(Abweichung vom X-Rite Fertigungsstandard bei 23 °C im Einzelmessmo-
dus bei 12 BCRA-Kacheln (D50/2°))
Kurzzeitwiederholgenauigkeit 0,1 ∆E94* auf weiß (D50/2°, Mittel aus 10 Messungen auf weiß alle 3 s )
Emissions-
messung Spektrale Radianz [mW/nm/m
2
/sr], Luminanz [cd/m
2
]
Messgeräteübereinstimmungt 0,2 - 1200 cd/m
2
auf einem handelsüblichen LCD-Monitor
Kurzzeitwiederholgenauigkeit typ. x,y ±0,002 (5000 K, 80 cd/m
2
)
Umgebungs-
lichtmessung
Spektrale Irradianz [mW/nm/m
2
], Luminanz [Lux]
Messkopf für diffuses Licht mit Kosinuskorrektur
Schnittstelle
USB 1.1