User manual
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Analyse
FürdieVerbindungdesTestobjektsmitdenKomponen-
tentester-BuchsensindzweieinfacheMesskabelmit
4mm-Bananensteckernerforderlich.DasTestprinzipberuht
auf einem integrierten Sinusgenerator welcher ein Sig-
nal mit max. 10 V Amplitude und einer Frequenzvon50Hz
oder 200 Hz (±10%) bereitstellt. Sie speist eine Reihen-
schaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand. Ist
dasPrüfobjekteinereelleGröße(z.B.einWiderstand),sind
beide Spannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird
ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das
Prüfobjektkurzgeschlossen,stehtderStrichsenkrecht.Bei
Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waa-
gerechteLinie.DieSchrägstellungdesStrichesisteinMaß
für den Widerstandswert. Damit lassen sich ohmsche Wi-
derständezwischenΩundkΩtesten.
KondensatorenundInduktivitäten(Spulen,Drosseln,Tra-
fowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen
Strom und Spannung. Das ergibt ellipsenförmige Bil-
der.LageundÖffnungsweitederEllipsesindkennzeich-
nend für den Scheinwiderstandswert bei einer Frequenz
von 50 Hz (bzw. 200 Hz). Kondensatoren werden im Be-
Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen bzw.
Geräten benden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte unter al-
len Umständen vorher stromlos gemacht werden. Soweit Netzbe-
trieb vorliegt ist auch der Netzstecker des Testobjektes zu ziehen.
Damit wird sichergestellt, dass eine Verbindung zwischen Oszil-
loskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird. Sie
hätte falsche Testergebnisse zur Folge.
Abb. 9.10: Komponententester bei Kurzschluss
Wie im Abschnitt Sicherheit beschrieben, sind alle Messan-
schlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter
verbunden, also auch die COMP. TESTER-Buchsen. Für den Test
von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schaltungen bend-
lich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht mit dem Netz-
schutzleiter verbunden sein können.
reichµFbismFangezeigt.EineEllipsemithorizontaler
LängsachsebedeutethoheImpedanz(kleineKapazität
oder große Induk ti vität). Eine Ellipse mit vertikalerLängs-
achse bedeutet niedrige Impedanz (große Kapazität oder
kleine Induk tivität). Eine Ellipse in Schräglage bedeutet ei-
nen relativ großen Verlustwiderstand in Reihe mit dem
Blind widerstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Übergang vom leitenden in den
nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig
möglichist,werdenVorwärts-undRückwärts-Charakteris-
tikdargestellt(z.B.beieinerZ-Diodeunterca.9V).Es
handeltsichimmerumeineZweipol-Prüfung;deshalb
kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet
werden,wohlaberdieeinzelnenÜbergängeB-C,B-E,C-E.
Da der TeststromnureinigemAbeträgt,könnendie
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft
werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch-und
Sperrspannung > ca. 9 V ist nicht möglich. Das ist im
AllgemeinenkeinNachteil,daimFehlerfallinderSchal-
tungsowiesogrobeAbweichungenauftreten,dieein-
deutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit
sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden!
Abb. 9.11: Komponententester Testbilder