User manual
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Sous réserve de modications
T e s t d e c o m p o s a n t s
11 Test de composants
11.1 Généralités
Les oscilloscopes HMO72x ... HMO202x sont dotés d‘un testeur
de composants interne. Celui-ci peut être activé en appuyant
sur le bouton de mode XY/CT puis en mettant en marche le
CT dans le menu qui s‘ouvre en haut. Le dispositif sous test
est connecté aux deux contacts sous l‘écran. Après la mise en
marche du mode testeur de composants, les préamplicateurs
Y et la base de temps sont déconnectés. Lors de l‘utilisation du
testeur de composants, des signaux peuvent être présents au
niveau des entrées aussi longtemps que le dispositif sous test
n‘est pas connecté à un autre circuit. Il est possible de tester
les composants restants dans leurs circuits mais dans ce cas,
tous les signaux doivent être déconnectés des connecteurs
BNC du panneau avant ! (Cf. paragraphe suivant : « Test in-
situ »). Deux câbles dotés de ches de 4 mm sont nécessaires
pour relier l‘unité sous test au testeur de composants. Après
l‘achèvement du test de composants, appuyez sur la touche
programmable inférieure COMP. TEST OFF pour quitter le
mode testeur de composants et reprendre le fonctionnement
normal de l‘oscilloscope.
Comme indiqué dans le chapitre Sécurité, tous
les connecteurs de mesure sont reliés à la terre
du réseau d‘alimentation secteur (en cas de bon
fonctionnement). Cela implique également les
contacts COMP.TESTER. Tant que les composants
individuels sont testés, cela n‘a pas de conséquence
car ces composants ne sont pas reliés à la terre de
protection.
Dans le cas de tests de composants situés dans
des circuits ou des instruments, ces circuits/
instruments doivent en toutes circonstances
être d‘abord déconnectés ! S‘ils fonctionnent sur
secteur, le câble secteur de l‘objet sous test doit
être enlevé. Cela garantit l‘absence de boucles
entre l‘oscilloscope et l‘objet sous test via la terre
de protection, lesquelles pourraient alors entraîner
des résultats erronés.
Seules les capacités déchargées peuvent être
testées !
Le principe du test est basé sur un générateur dans le HMO
qui génère une onde sinusoïdale de 50 Hz ou 200 Hz (± 10%)
pour alimenter la connexion en série de l‘objet sous test et une
résistance « sense » (de détection)
Si l‘objet sous test ne démontre qu‘une charge réelle,
comme une résistance, les deux tensions seront en phase et
l‘oscilloscope afchera une ligne droite plus ou moins inclinée.
Si l‘objet sous test est en court-circuit, la ligne sera verticale
(pas de tension, courant maximum). Si l‘objet sous test re-
présente un circuit ouvert ou absent, une ligne horizontale
apparaîtra (tension mais pas de courant). L‘angle de la ligne
par rapport à l‘horizontale représente une mesure de la valeur
de résistance, permettant des mesures de résistances dans
une plage Ω et kΩ.
Les condensateurs et inductances provoquent un déphasage
entre la tension et le courant et donc entre les tensions. Cela
entraîne un afchage sous forme d‘ellipses. L‘emplacement et
le facteur de forme de l‘ellipse sont déterminés par l‘impédance
apparente à 50 Hz (ou 200 Hz). Les condensateurs peuvent être
mesurés dans une plage pF et mF.
– Une ellipse avec son axe le plus long à l‘horizontale indique
une haute impédance (faible capacité ou inductance élevée)
– Une ellipse avec son axe le plus long à la verticale indique
une impédance réduite (grande capacité ou petite induc-
tance)
– Une ellipse avec son axe le plus long en incliné indique
une perte résistive relativement importante en série avec
l‘impédance d‘un condensateur ou une inductance.
Pour les semi-conducteurs, la transition entre l‘état non-
conducteur et l‘état conducteur est indiqué dans leur caracté-
ristique. Dans la mesure du possible, avec les tensions et les
courants disponibles, les caractéristiques directes et inverses
sont afchées (par exemple avec des diodes Zener jusqu‘à 9 V).
S‘agissant d‘une mesure à deux pôles, le gain d‘un transistor
ne peut être déterminé mais les diodes B-C,B-E et C-E peuvent
être mesurées.
Notez que la plupart des transistors bipolaires
ne peuvent accepter une tension E-B d‘environ
5 V et peuvent être détériorés si cette limite est
dépassée; des transistors RF sensibles supportent
encore bien moins !
Hormis cette exception, les diodes peuvent être mesurées sans
crainte de destruction étant donné que la tension maximale
est limitée à 9 V et le courant à quelques mA . Cela implique
cependant qu‘une mesure de tensions de claquage >9 V n‘est
pas possible. En général, cela ne constitue pas un inconvénient
car en cas de défaut dans un circuit, on peut s‘attendre à des
écarts bruts pointant vers le composant défectueux.
Des résultats assez exacts peuvent être atteints si les me-
sures sont comparées à celles effectuées sur des compo-
sants intacts. Cela est particulièrement vrai pour les semi-
conducteurs. La polarité des diodes ou des transistors peut
ainsi être identiée si le marquage est manquant.
Notez qu‘avec les semi-conducteurs, une inversion de polarité
(par exemple en inversant le les terminaisons COMP.TESTER
et masse) entraîne une rotation de 180 degrés de l’afchage.
Plus important encore dans la pratique est la détermination
Fig. 11.1: Afchage du testeur de composants en présence d‘un court-
circuit
D o c u m e n t a t i o n , e n r e g i s t r e m e n t e t c h a r g e m e n t