User manual

Anwendungsbeispiele
Messung der La
ufzeitverzögerung
Sie vermuten, dass das Speicher-Timing in einem Mikroprozessor-Schaltkreis
nicht optimal ist. Richten Sie das Oszilloskop so ein, dass sich die
Laufzeitver
zögerung zwisc he n dem chip-select-Signal und den ausgegebenen
Daten des Speicherbausteins messen lässt.
Typ
Uhrzeit
Quelle
CH1
Δt 20,00 ns
1/Δt50,00MHz
ΔV0,28V
Cursor 1
50,0 ns
-0,20 V
Cursor 2
70,0 ns
0,08 V
Zum Einrichten der Mes
sung der Laufzeitverzögerung gehen Sie wie folgt vor:
1. Drücken Sie die Taste AutoSet, um eine stabile Anzeige zu erhalten.
2. Stellen Sie die horizontalen und vertikalen Bedienelemente ein, um die
Anzeige zu optimieren.
3. Drücken Sie die Taste Cursor, um das Menü „Cursor“ anzuzeigen.
4. Drücken Sie Typ ► Zeit.
5. Drücken Sie Quelle ► CH1.
6. Drücken Sie die Optionstaste Cursor 1.
7. Drehen Sie den Mehrfunktions-Drehknopf, um einen Cursor auf die aktive
Flanke des chip-select-Signals zu setzen.
44 Benutzerhandbuch für Oszilloskope der TBS1000-Serie