Datasheet

DocID024119 Rev 2 7/26
TS882, TS884 Electrical characteristics
Table 4. V
CC
=+2.7V, T
amb
= +25 °C, V
ICM
=V
CC
/2 (unless otherwise specified)
(1)
Symbol Parameter Test conditions Min. Typ. Max. Unit
V
IO
Input offset voltage
(2)
T
amb
= +25 °C
-40 °C < T
amb
< +125 °C -6
1
6
mV
V
IO
Input offset voltage drift -40 °C < T
amb
< +125 °C 3 µV/°C
V
HYST
Input hysteresis voltage
(3)
T
amb
= +25 °C
-40 °C < T
amb
< +125 °C 1.6
2.7
4.2
mV
I
IO
Input offset current
(4)
T
amb
= +25 °C
-40 °C < T
amb
< +125 °C
10
100
pA
I
IB
Input bias current
(4)
T
amb
= +25 °C
-40 °C < T
amb
< +125 °C
110
100
pA
I
CC
Supply current per operator
No load, output low, V
ID
= -0.1 V
-40 °C < T
amb
< +125 °C
No load, output high, V
ID
= +0.1 V
-40 °C < T
amb
< +125 °C
310
220
450
350
nA
I
SC
Short-circuit current
Source
Sink
10
13
mA
V
OH
Output voltage high
I
source
=2mA
-40 °C < T
amb
< +85 °C
-40 °C < T
amb
< +125 °C
2.48
2.40
2.10
2.51
V
V
OL
Output voltage low
I
sink
=2mA
-40 °C < T
amb
< +85 °C
-40 °C < T
amb
< +125 °C
130 210
230
310
mV
CMRR Common mode rejection ratio
0 < V
ICM
< V
CC
-40 °C < T
amb
< +125 °C 55
74
dB
T
PLH
Propagation delay
(low to high)
f=1kHz,C
L
=30pF,R
L
=1M
Overdrive = 10 mV
-40 °C < T
amb
< +125 °C
Overdrive = 100 mV
-40 °C < T
amb
< +125 °C
6.4
2.3
12
14
3.0
3.7
µs
T
PHL
Propagation delay
(high to low)
f=1kHz,C
L
=30pF,R
L
=1M
Overdrive = 10 mV
-40 °C < T
amb
< +125 °C
Overdrive = 100 mV
-40 °C < T
amb
< +125 °C
6.4
2.2
12
14
3.0
3.7
µs
T
R
Rise time (10% to 90%) C
L
=30pF, R
L
=1M 120 ns
T
F
Fall time (90% to 10%) C
L
=30pF, R
L
=1M 130 ns
T
ON
Power-up time 1.1 1.7 ms
1. All values over the temperature range are guaranteed through correlation and simulation. No production test is performed
at the temperature range limits.
2. The offset is defined as the average value of positive and negative trip points (input voltage differences requested to
change the output state in each direction).
3. The hysteresis is a built-in feature of the TS882. It is defined as the voltage difference between the trip points.
4. Maximum values include unavoidable inaccuracies of the industrial tests.