Datasheet
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ELEKTRO-MIGRATIONSTEST (IPCTM650, METHOD 2.6.14.1)
EINLEITUNG
Die Abkürzung ECM steht für Elektro Chemische Migra-
tion. ECM ist definiert als das Wachstum von leitfähigen
Metallfilamenten unter dem Einfluss einer Gleichspan-
nung. Das Wachstum erfolgt durch Elektroabschei-
dung aus einer Lösung die Metallionen enthält. Der Test
schließt insbesondere Phänomene wie den feldindu-
zierten Metalltransport in Halbleitern und die Diffusion
der Produkte, die durch Metallkorrosion entstehen, aus.
TESTBEDINGUNGEN
Leiterplatte: IPC-B-25A Kamm D,
Blankes Kupfer auf FR-4 Basismaterial
Klima: 65 ± 2°C, 88,5 ± 3,5%rH
Messbereich: Bis zu 10
13
, Spannung 10VDC
Testdauer: 596h (25 Tage)
ERGEBNIS
Der I50 oder auch Anfangsisolationswiderstand wird
nach einer 96 stündigen Stabilisierungsphase gemes-
sen. Der E50 oder auch Endisolationswiderstand wird
nach weiteren 500h Dauerspannung von 10V gemessen.
I50 Initialwert und der endgültige Isolationswiderstand
E50 sind nach dem Prüfverfahren zu melden.
Die Kriterien für das Bestehen des ECM-Tests sind:
• Das E50 ≥I50/10. Das heißt, dass der Oberflächen-
isolationswiderstandswert im Verlaufe der Messung
maximal um eine Dekade sinken darf.
• Es darf kein Nachweis einer elektrochemischen
Migration (Filamentwachstum) vorliegen, die den
Leiter bahnabstand um mehr als 20% reduziert.
• Es darf keine Korrosion* der Leiterbahnen auftreten.
* Hinweis: Eine geringfügige Verfärbung der Kamm-
muster ist akzeptabel
Ergebnisse: Keine elektrochemische Migration. Die letzte IR ist ≥ der erste IR = BESTANDEN
EINLEITUNG TEST DATEN DOKUMENTE
handgelötet
ECM
E50
I50