User manual
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Analyse
sendieZuleitungenzudenBNC-Buchsennichtgelöst
werden (siehe Kap. 9.5.1). Das Testprinzip beruht auf einem
integrierten
Sinusgenerator,welchereinSignalmitmax.
10 V AmplitudeundeinerFrequenzvon50Hzoder200Hz
(±10%) bereitstellt. Sie speist eine Reihenschaltung aus
Prüfobjekt und eingebautem Widerstand. Ist das Prüfob-
jekteinereelleGröße(z.B.einWiderstand),sosindbeide
Spannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird ein
mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das
Prüfobjektkurzgeschlossen,sowirdeinsenkrechterStrich
auf dem Bildschirm gezeigt. Ohne Prüfobjekt oder bei Un-
terbrechungzeigtsicheinewaagerechteLinie.DieSchräg-
stellung des Striches ist ein Maß für den Widerstandswert.
DamitlassensichohmscheWiderständezwischenΩund
kΩtesten.KondensatorenundInduktivitäten(Spulen,
Drosseln,Trafowicklungen)bewirkeneinePhasendifferenz
zwischen Strom und Spannung. Dies ergibt ellipsenför-
migeBilder.LageundÖffnungsweitederEllipsesind
kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer
Frequenzvon50Hz(bzw.200Hz).Kondensatorenwerden
imBereichµFbismFangezeigt.EineEllipsemithorizonta-
lerLängsachsebedeutethoheImpedanz (kleine Kapazität
oder große
Induktivität).EineEllipsemitvertikalerLängs-
achse bedeutet niedrige Impedanz (große Kapazität oder
kleine Induktivität). Eine Ellipse in Schräglage bedeutet
einen relativ großen Verlustwiderstand in Reihe mit dem
Blindwiderstand.
Bei Halbleitern sind die spannungsabhängigen Kennlinien-
knicke beim Übergang vom leitenden in den nichtleitenden
Zustanderkennbar.Soweitspannungsmäßigmöglich,wer-
denVorwärts-undRückwärts-Charakteristikdargestellt
(z.B.beieinerZ-Diodeunterca.9V).Eshandeltsichimmer
umeineZweipol-Prüfung.AusdiesemGrundkannz.B.
dieVerstärkungeinesTransistorsnichtgetestetwerden,
aberdieeinzelnenÜbergängeB-C,B-E,C-E.DaderTest-
stromnureinigemAbeträgt,könnendieeinzelnenZonen
fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden. Eine
Bestimmung von
Halbleiter-Durchbruch-undSperrspan-
nung > ca. 9 V ist nicht möglich. Das ist im Allgemeinen
keinNachteil,daimFehlerfallinderSchaltunggrobe
Abweichungenauftreten,dieeindeutigeHinweiseaufdas
fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse
werden beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bau-
elementen des gleichen Typs und Wertes erzielt. Dies gilt
insbesondere für Halbleiter. Damit kann z.B. der kathoden-
seitigeAnschlusseinerDiodeoderZ-Diodemitunkennt-
licherBedruckung,dieUnterscheidungeinesp-n-p-Tran-
sistorsvomkomplementärenn-p-n-Typoderdierichtige
GehäuseanschlussfolgeB-C-EeinesunbekanntenTransis-
tortypsschnellermitteltwerden.Zubeachtenisthierbei,
dass die Anschlussumpolung eines Halbleiters eine 0 Dre-
hung des Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt des
Bildschirmsbewirkt.WichtigernochistdieeinfacheGut-/
Schlecht-AussageüberBauteilemitUnterbrechungoder
Kurzschluss,dieimService-Betrieberfahrungsgemäßam
häugstenbenötigtwird.
9.5.1 Tests direkt in der Schaltung
DirekteTestsineinerSchaltungsindinvielenFällen
möglich,abernichtsoeindeutig.DurchParallelschaltung
reellerund/oderkomplexerGrößen–besonderswenn
diesebeieinerFrequenzvon50Hz/200Hzrelativniederoh-
migsind–ergebensichmeistensgroßeUnterschiede
gegenüber Einzelbauteilen. Wird oft mit Schaltungen
gleicherArtgearbeitet(Service),dannhilftauchhierein
Vergleich mit einer funktionsfähigen Schaltung. Dies geht
sogarbesondersschnell,weildieVergleichsschaltung
gar nicht unter Strom gesetzt werden muss (und darf!).
Mit den Testkabeln sind die identischen Messpunktpaare
nacheinander abzutasten und die Schirmbilder zu verglei-
chen. Unter Umständen enthält die Testschaltung selbst
schondieVergleichsschaltung,z.B.beiStereo-Kanälen,
Gegentaktbetrieb,symmetrischenBrückenschaltungen.In
Zweifelsfällen kann ein Bauteilanschluss einseitig abgelötet
werden.
Bei einzelnen MOS-Bauelementen sollte in Bezug auf statische
Auadung oder Reibungselektrizität entsprechend sorgsam gear-
beitet werden.
Abb. 9.5: Komponententest-Beispiel.
Abb. 9.4: HZ20 Adapter verbunden mit AUX OUT