Datasheet

METRA
HIT 2
Multimetr
Analogowo-Cyfrowy
Spełniane N
ormy i Standardy Dobrowolna gwarancja producenta
36
miesięcy
na materiał
i jakość wykonania
1
3
lat na
kalibrację
(w zależności od obwarow
użytkownika
)
Wartości Char
akter
ystyczne
DC
ef
f
1)
Od
0
do
+
40
°
C
2)
Z zerem w balansie
,
lub
+
35
cyfr
bez
zer
a
w
b
a
l
a
n
sie
3)
Bez czujnika
4)
12
A
dla
5
mi
n,
16
A
dla
30
s
Legenda
rdg.
=
odczytana
(wartość zmierzona
)
d
=
cyfra
2
GMC-I
Gossen-Metrawat
t
G
mbH
Funkcje
Pom.
Zakres Pomiarowy
R
ozdzie
-
lczość
6
000
Impedancja wejściowa
Błąd podstawowy dla
Max.
Rozdzielczości
w
warunkach znamionowych
Zdolność
przeciażeniowa
1)
Funkcje
Pom.
±
(...
%
rdg.
+
...
d)
±
(...
%
rdg.
+
...
d)
Wartość
Czas
V
600
mV
100
µ
V
>
10
G
Ω
//
<
40
p
F 4
0 MΩ
//
<
40
pF
0,5
+
5
1
+
3
600
V
AC
ef
f
Si
nus
Co
n
t.
V
6
V
1
m
V
11
M
Ω
//
<
40
p
F 8
MΩ
//
<
40
p
F
0,5
+
5
60
V
10
mV
10
M
Ω
//
<
40
p
F 8
M
Ω
//
<
40
p
F
0,5
+
5
600
V
100
mV
10
M
Ω
//
<
40
p
F 8
M
Ω
//
<
40
p
F
0,5
+
5
Spadek napięcia
limit/zakres
A
60
mA
10
µ
A 100
mV 100
mV
1,0
+
5
(
>
10
D
)
1,5
+
5
(>
10
D
)
1,0
A
C
ont.
A
600
mA
100
µ
A 700
mV 700 mV
1,0
+
5 1,5
+
5
(>
10
D)
6
A
1
m
A 2
00
mV 2
00
mV
1,0
+
5
(
>
10
D)
1,5
+
5
( >
10
D
)
10
A
4)
Co
n
t.
10
A
10
m
A 30
0
mV 30
0
mV
1,0
+
5 1,5
+
5
( >
10
D
)
Napięcie [
ob. otwarty
]
Pd pomiarowy
limit/zakres
±
(...
%
rdg.
+
...
d)
600ȍ 100
mȍ
max.
1
V
max.
250
µ
A
1
+
5
2
)
600
V
DC
AC
ef
f
Si
nus
ma
x
.
10
s
6
kȍ
1ȍ
max.
1
V
max.
100
µ
A
0,7
+
3
60
kȍ
10ȍ
max.
1
V
max.
12
µ
A
0,7
+
3
600
kȍ
100ȍ
max.
1
V
max.
1 ,2
µ
A
0,7
+
3
6
Mȍ 1
k ȍ
max.
1
V
ma x.
120
n
A
0,7
+
3
40
Mȍ
10
k ȍ
max.
1
V
max.
50
n
A
2,0
+
3
2
V
1
m
V
m
a
x
.
3
V
0
,
5
+
3
±
(...
%
rdg.
+
...
d)
°
C
TY
P
K
50,0
...
+
400,0
°
C
0,1
°
C
1,0
+
5
3)
600
V
DC
/AC
Si
nus
ma
x
.
10
s
°
C
±
(...
%
rdg.
+
...
d)
Hz
100
Hz
0
,
1
Hz
0,1
+
2
600
V
DC
AC
Hz
1000
Hz
1
Hz
0,1
+
2
IEC
61
010-1/EN
61
010-1/
VDE
0411-1
Wymagania
bezpieczeństwa
dla
przyrw pomiarowych,
użytku kontrolno-pomiarowego i
la
bor
a
tor
yjnego
EN
60
529
VDE
0470,
Part
1
Przyrządy testujące
i
procedury testowe
Zapewnienie ochrony poprzez obudowe
(I
P
stopień
)
IEC
61
326/EN
61
326
Kompatybilno elektromagnetyczna
(E
MC)