User manual

64 GMC-I Messtechnik GmbH
b) über die IEC-Bus-Schnittstelle als adressiertes Schnitt stel-
len-Kommando GET (GROUP EXECUTE TRIGGER);
Programmier-Beispiele (HP-Basic):
TRIGGER 712 !triggert das Gerät mit
!Adresse 12
TRIGGER 7 !alle Hörer-adressierten
!Geräte werden getriggert
Bemerkungen
Bei nicht definierter Triggeraktion (DDT-Speicher leer) führt der
Empfang der Device-Trigger-Anweisung zum Setzen des Bits 4
(EXE, Execution Error) im Standard-Ereignisregister.
Der Befehl *TRG darf nicht als Teil der DDT-Anweisung verwendet
werden.
Durch die Ausführung des Triggerbefehls wird das DDT-Register
nicht verändert oder gelöscht.
*TST?, HID_TST? – Auslösen eines Selbsttests
Funktion
Der Empfang des Abfragebefehls *TST? oder HID_TST? veran-
lasst das Gerät, einen Selbsttest durchzuführen und das Tester-
gebnis als Antwort im Datenausgabepuffer bereitzustellen.
*TST? liefert als Antwort die Information "0" (= Test bestanden)
oder "1" (= Test fehlerhaft).
Der Antwortstring nach HID_TST? hingegen besteht aus einer
umfangreichen Auflistung der Prüfergebnisse aus den einzelnen
Testabschnitten.
a) ROM-Test
Der Prozessor ermittelt die Prüfsumme der ROM-Speicherbau-
steine (Programmspeicher) und vergleicht diese mit dem ein-
getragenen Wert. Bei Ungleichheit ist die korrekte Funktion des
Gerätes nicht sichergestellt und der Test wird als fehlerhaft
(FAILED) gemeldet. In diesem Fall muss das Gerät von einer
Service-Stelle überprüft und ggf. instandgesetzt werden.
b) RAM-Test
Die RAM-Speicherbausteine (Arbeitsspeicher) werden nach
schadhaften Speicherzellen durchsucht. Werden solche ent-
deckt, so ist die korrekte Funktion des Gerätes nicht sicherge-
stellt und der Test wird als fehlerhaft gemeldet. In diesem Fall
muss das Gerät von einer Service-Stelle überprüft und ggf.
instandgesetzt werden.
c) ADC-Timer-Test
Die Analog / Digital-Wandlung (ADC) zur Messwertermittlung
erfolgt nach dem Prinzip der Spannungs/Frequenz-Umsetzung
(VFC). Das Frequenzsignal wird dabei einem Zähler im zentra-
len Steuerwerk zugeführt.
Beim ADC-Timer-Test wird die Torzeit dieses Zählers überprüft.
Liegt diese außerhalb der Toleranz, so ist die Genauigkeit der
Messfunktion nicht gewährleistet und der Test wird als fehler-
haft gemeldet. In diesem Fall muss das Gerät von einer Ser-
vice-Stelle überprüft und ggf. instandgesetzt werden.
d) DAC-ADC-Test
entfällt für Firmware-Version 03.002 und ab 03.004
Auslösen und Abfrage über Rechnerschnittstellen
a) Abfragebefehl: *TST?
Antwortstring: 0 = Test bestanden
1 = Test fehlerhaft
Konstante Länge des Antwortstrings: 1 Zeichen.
b) Abfragebefehl: HID_TST?
Antwortstring (Beispiel):
"X-ROM-TEST PASSED (0B800H); X-RAM-TEST
PASSED; ADC-TIMER-TEST PASSED; DAC-ADC-
TEST PASSED (000000000); END TEST"
Konstante Länge des Antwortstrings: 111 Zeichen.
Bemerkungen
Das Auslösen des Selbsttests bewirkt keine Änderung der
momentanen Geräteeinstellung oder abgespeicherter Parameter.
Der Ablauf des Selbsttests beginnt sofort nach Empfang des ent-
sprechenden Abfragebefehls und dauert ca. 6 Sekunden. Wäh-
rend des durch HID_TST? ausgelösten Selbsttests blinkt die LED
"READY".
Solange der Test läuft sollen keine Daten an das Gerät gesen-
det und keine manuellen Bedienvorgänge durchgeführt werden.
Programmierhinweise
*TST? oder HID_TST? nicht zusammen mit anderen Einstell- oder
Abfragebefehlen in einem Datenstring senden.
Zwischen dem Senden des Selbsttest-Abfragebefehls und dem
Auslesen des Antwortstrings einen Wartezyklus von ca. 6 Sekun-
den einfügen, oder bei IEC-Bus-Steuerung:
Die Beendigung des Selbsttests kann durch zyklisches Abfragen
und Auswerten des Statusbytes (Serial Poll) erkannt werden (Test
beendet → MAV-Bit = 1). Durch die Serial-Poll-Abfrage wird der
Selbsttest nicht beeinflusst.
Ein nicht bestandener Selbsttest führt auch zum Setzen des Bits
"TSTE" im Ereignisregister B. Bei entsprechender Maskierung
durch die Freigaberegister ERDE und SRE wird dann eine SRQ-
Meldung ausgelöst.
*WAI – Wait to continue
Funktion
Das Kommando *WAI hat für die Programmierung des
KONSTANTERs keine Bedeutung.
Es dient dem synchronen Ablauf des Schnittstellenprotokolls
nach der Norm IEC 488.2.
CRA? – Zustandsregisterabfrage
Funktion
Das Zustandsregister gibt Auskunft über den aktuellen Zustand
bestimmter Gerätefunktionen zum Zeitpunkt der Abfrage.
Geht beispielsweise der Ausgang in Stromregelung (Constant
Current Regulation), so wird das zugehörige Bit "CCR" im
Zustandsregister A (CRA, Condition Register A) gesetzt (Bedin-
gung WAHR —> Zustandsbit = 1).
Dieses Bit bleibt solange gesetzt, wie die Stromregelung andau-
ert. Während dieser Zeit kann das Zustandsregister beliebig oft
abgefragt werden, ohne dass sich dadurch sein Inhalt ändert. Erst
wenn der Ausgang nicht mehr in Stromregelung arbeitet, wird das
entsprechende Bit zurückgesetzt (Bedingung FALSCH →
Zustandsbit = 0).
Programmierung
Das Gerät besitzt ein 8-Bit-Zustandsregister. Dieses kann ausge-
lesen, jedoch nicht direkt beschrieben oder gelöscht werden.
Die gelieferte Antwort besteht aus einer Ganzzahl 0 ≤ n ≤ 255,
wobei n dem Dezimaläquivalent des Registerinhalts entspricht.
DCL, SDC – Device-Clear-Funktion
Funktion
Die Device-Clear-Anweisung bewirkt das Löschen der Eingabe-
und Ausgabepuffer der Rechnerschnittstellen (z. B. angeforderte
aber nicht abgeholte Daten). Schnittstelleninterne Wartezeiten
oder Sperren werden aufgehoben. Das Gerät ist zum Empfang
von Daten bereit.
Bezeichnung Abfragebefehl
Condition Register A (CRA) CRA?