User Manual

80 Series V
Brugsanvisning
22
Diodeafprøvning
WForsigtig!
Man skal slukke for strømmen i kredsen og
aflade alle højspændingskapacitanser forud
for diodeafprøvning, så instrument og udstyr,
der afprøves, ikke tager skade.
Man benytter diodeafprøvningsfunktionen til at afprøve
dioder, transistorer, siliciumstyrede ensrettere og lignende
halvlederkomponenter. Funktionen afprøver
halvlederovergange ved at sætte en vis strøm på og
derpå måle spændingsfaldet i overgangen. Intakte
siliciumhalvledere har spændingsfald på 0,5 − 0,8 V.
Instrumentet indstilles som vist i fig. 7 til afprøvning af
dioder, der er taget af kredse. Til direkte
forspændingsmåling på halvlederkomponenter, sættes
den røde søgeledning på komponentens positive pol og
den sorte på den negative pol.
Intakte dioder, der sidder i kredse, skal også give en
direkte forspændingsmåling på 0,5 − 0,8 V; mens invers
forspændingsværdi varierer efter modstanden i andre stier
mellem søgebenene.
Instrumentet giver et kort bip, hvis dioden er intakt
(< 0,85 V). Og fortsat bippen, hvis målingen er ≤ 0,100 V.
Sådant resultat er tegn på kortslutning. Der står
"OL" på
skærmen, hvis dioden er defekt.