User Manual
Table Of Contents
- 80 Series V Brugsanvisning
- Indledning
- Henvendelse til Fluke
- Sikkerhed
- Instrumentets indretning
- Måling
- Måling af veksel- og jævnspænding
- Visning uden indgangssignal på instrumenter med sand effektiv strømværdi (model 87)
- Lavpasfilter (på model 87)
- Temperaturmåling (med model 87)
- Gennemgangsafprøvning
- Modstandsmåling
- Måling af høj modstand og lækstrøm med ledeevneafprøvning
- Kapacitansmåling
- Diodeafprøvning
- Måling af veksel- og jævnstrømstyrke
- Frekvensmåling
- Udnyttelsesforholdsmåling
- Bestemmelse af pulsbredde
- Blokskala
- HiRes funktion (model 87)
- MIN MAX registrering
- Udglatning (startalternativ)
- AutoHOLD
- Kompensering
- Vedligeholdelse
- Service og reservedele
- Specifikationer

80 Series V
Brugsanvisning
20
Måling af høj modstand og lækstrøm med
ledeevneafprøvning
Ved ledeevne, der er det omvendte af modstand, forstås
en kreds evne til at føre strøm. Høj ledeevne svarer til
lav modstand.
Instrumentets 60 nS måleområde måler ledeevne i
nanosiemens (1 nS = 0,000000001 siemens). Da så lav
ledeevne svarer til meget høj modstand, kan man måle
komponentmodstand på op til 100.000 MΩ,
(idet 1 nS = 1.000 MΩ).
Man måler ledeevne ved at indstille instrumentet til
modstandsmåling som vist i fig. 5, og så trykke på
C-tasten til nS signaturen kommer på skærmen.
Tip om ledeevnemåling:
• Måling af høj modstand har tendens til modtagelighed
for el-støj. Man kan udglatte de fleste støjbehæftede
målinger ved at åbne MIN MAKS registrering og så
stille på gennemsnitsvisning (AVG).
• Det er normalt, at der er en rest-ledeevnevisning,
efter søgeledningerne er aftaget emnet. Man får
derfor mere nøjagtig visning ved at benytte
kompensering (REL) til subtraktion af rest-værdien.