User Manual

287/289
Användarhandbok
74
Specifikationer för kapacitans- och diodtestfunktioner
Funktion Område Upplösning Noggrannhet
1 nF
[1]
0,001 nF 1 % + 5
10 nF
[1]
0,01 nF 1 % + 5
100 nF
[1]
0,1 nF 1 % + 5
1 μF 0,001 μF 1 % + 5
10 μF 0,01 μF 1 % + 5
100 μF 0,1 μF 1 % + 5
1000 μF 1 μF 1 % + 5
10 mF 0,01 mF 1 % + 5
Kapacitans
100 mF 0,1 mF 2 % + 20
Diodtest 3,1 V 0,0001 V 1 % + 20
[1] Med en filmkondensator eller bättre, med användning av det relativa läget (REL Δ för restnollning.