User Manual

287/289
Brugsanvisning
36
Stil indstillingsknappen på P og forbind instrumentet som
illustreret fig. 19 til kapacitansmåling. Hvis det fremgår af
skærmen, at instrumentet ikke allerede er i gang med at måle
kapacitans, skal man trykke på funktionstasten under Menu på
knaplinjen. Flyt dernæst postmarkøren til posten Diode,Cap og
tryk på funktionstasten under Cap. på knaplinjen.
Bemærk
Man kan måle små kondensatorer med større
nøjagtighed ved at trykke på Menu og flytte
postmarkøren til RELposten. Tryk derpå på
funktionstasten REL med søgebenene uforbundne til
at kompensere visningen for restkapacitans i
instrument og søgeledninger.
Diodeafprøvning
W Forsigtig
Man skal slukke for strømmen i kredsen og aflade
alle højspændingskondensatorer forud for
diodeafprøvning, så instrument og udstyr, der
afprøves, ikke tager skade.
Man benytter diodeafprøvningsfunktionen til at afprøve dioder,
transistorer, siliciumstyrede ensrettere og lignende
halvlederkomponenter. Instrumentet afgiver i denne funktion
strøm til halvlederen og måler derpå spændingsfaldet i den.
Typisk spændingsfald ligger på 0,5 – 0,8 V.
Stil omstillingsknappen på P og forbind instrumentet som
illustreret fig. 20 til afprøvning af dioder udtaget af kredse. Hvis
det fremgår af skærmen, at instrumentet ikke allerede er i gang
med diodeafprøvning, skal man trykke på funktionstasten Menu.
Flyt dernæst postmarkøren til posten Diode,Cap og tryk på
funktionstasten under Diode på knaplinjen.
Ifald bibsignal er slået til under diodeafprøvning, bipper
instrumentet kortvarigt ved intakte dioder og giver ubrudt tone
ved defekte dioder, dvs. med spændingsfald under 0,1 V. Vi
henviser til anvisning i at slå bipsignal fra og til i afsnittet
"Omstilling af instrumentindstillinger".
Intakte dioder, der sidder i kredse, skal også have direkte
forspænding på 0,5 – 0,8 V; men målinger kan afvige herfra pga.
modstanden i andre strømstier mellem søgebenene.
Bemærk
R og MIN MAX er deaktiveret, når måleren er
indstillet til diodeafprøvning.