User Manual

27 II/28 II
Brugsanvisning
24
Diodetest
WForsigtig
Man skal slukke for strømmen i kredsen og
aflade alle højspændingskapacitanser forud
for diodeafprøvning, så instrument og
udstyr, der afprøves, ikke tager skade.
Man benytter diodeafprøvningsfunktionen til at afprøve
dioder, transistorer, siliciumstyrede ensrettere og
lignende halvlederkomponenter. I denne funktion afprøver
måleren en halvlederkomponent ved at sende en strøm
igennem den og derpå måle spændingsfaldet i
komponenten. Spændingsfaldet i en intakt
siliciumkomponent er på 0,5 - 0,8 V.
Instrumentet indstilles som vist i fig. 7 til afprøvning af
dioder, der er taget af kredse. Til direkte
forspændingsmåling af halvlederkomponenter, sættes
den røde prøveledning på komponentens positive pol og
den sorte på den negative pol.
Intakte dioder, der sidder i en kreds, skal også give en
direkte forspændingsmåling på 0,5 - 0,8 V; men invers
forspændingsværdien varierer afhængigt af modstanden i
andre forbindelser mellem søgebenene.
Instrumentet giver et kort bip, hvis dioden er intakt (< 0,85
V). Instrumentet giver et konstant bip, hvis aflæsningen er
≤0,100 V. Denne aflæsning angiver en kortslutning. Der
står "OL" på skærmen, hvis dioden er defekt.