User manual

Strona 11 z 14

Dystrybucja Conrad Electronic Sp. z o.o., ul. Kniaźnina 12, 31-637 Kraków, Polska

www.conrad.pl

Uwagi:

1. Dane kalibracyjne są przechowywane w pamięci i nie są kasowane, gdy miernik jest wyłączony.

2. Często wycieraj styk czujnika czystą, niestrzępiącą się szmatką, aby usunąć wszelkie cząsteczki na

końcówce czujnika.

3. Podczas kalibracji przyciski ▲ i ▼ dostosowują wewnętrzne współczynniki kalibracji z wysoką

rozdzielczością. Rozdzielczość wyświetlacza może być taka, że może zająć do 10 naciśnięć, aby

zobaczyć 1-cyfrową zmianę na wyświetlaczu.

Kalibracja wielopunktowa

Ta metoda wymaga wykonania dwóch lub więcej pojedynczych kalibracji punktowych. Aby uzyskać

najlepsze wyniki, oczekiwane pomiary grubości powłoki powinny mieścić się w punktach kalibracji.

Kalibracja dla powierzchni śrutowanych

Fizyczna natura śrutowanych powierzchni skutkuje wyższymi od normalnych odczytami grubości

powłoki.. Średnia grubość ponad szczytami może być określona w następujący sposób:

1. Miernik należy skalibrować zgodnie z instrukcjami kalibracji. Użyj gładkiej próbki kalibracyjnej o

tym samym promieniu krzywizny i tym samym podłożu

jako urządzenie do testowania.

2. Weź ok. 10 odczytów na niepowlekanej, śrutowanej próbce w celu uzyskania wartości średniej Xo.

3. Wykonaj dodatkowe 10 odczytów na pokrytej, śrutowanej próbce testowej, aby uzyskać średnią

wartość Xm

4. Różnica między dwiema wartościami średnią jest średnią grubością powłoki Xeff w stosunku do

pików. Należy również uwzględnić większe odchylenie standardowe "S" dwóch wartości Xm i Xo:

Xeff = (Xm - Xo) ± S

UWAGA: W przypadku powłok grubszych niż 300 μm, wpływ chropowatości na ogół nie ma znaczenia

i dlatego nie jest konieczne stosowanie powyższych metod kalibracji.