Reference Guide

Tableau 1. Surveillance du système (suite)
Catégories Attributs
États de veille
Durée d’états de veille
Réglages de la gestion de l’alimentation
Batterie Position
Date de fabrication
Numéro de série
Chimie
Capacité de conception
Nom
Nom du fabricant
ePPID
Courant
Tension
Cycles
Capacité de charge complète
Température
Journaux du fabricant
Stockage (disque dur/SSD) Position de disque
Nom du disque
Modèle de fabrication du disque
Taille du disque Mo
Disque ePPID
Position de partition de disque
Nom de partition de disque
Taille de partition de disque (Mo)
Pourcentage de temps de lecture
Pourcentage de temps d’écriture
Pourcentage de délai d’inactivité
Octets lus (Mo)
Octets écrits (Mo)
Journaux SMART
Événements système Événements de plantage du système d’exploitation
Événements de puissance
Événements thermiques
Événements d’erreur de redémarrage
Événements de diagnostic
Processeur Utilisation du processeur
2 Données collectées par SupportAssist