Reference Guide

19. 構成ごとの周囲温度の制限 き)
システム 前面ドライブ構成 プロセッサの熱設計
電力(TDP
プロセッサー数および
メモリ
囲温度制限
NVMe 通信 通信 35°C
通信 通信 CPU4DCPMM 35°C
通信 通信 CPU(任意の
NVDIMM
35°C
粒子およびガス汚染物質の仕
次の表は、粒子およびガスの汚染物質による機器の損傷、または故障を回避するために役立つ制限を定義しています。粒子
またはガスの汚染物質物のレベルが指定された制限を超え、その結果として機器が損傷または故障した場合は、環境件の是正
が必要になる可能性があります。環境件の改善はお客の責任となります。環境態の改善は、お客の責任となります。
20. 粒子汚染物質の仕
粒子汚染
気清浄 タセンタの空気清浄レベルは、ISO 14644-1 ISO クラス 8 の定義
に準じて、95 上限信限界です。
メモ: ISO クラス 8 件は、デタセンタ環境のみに適用されま
す。空気清浄要件は、事務所や工場現場などのデタセンタ外での
使用のために設計された IT 装置には適用されません。
メモ: タセンタに吸入される空は、MERV11 または MERV13
フィルタで濾過する必要があります。
導性ダスト 中に導性ダスト、鉛ウィスカ、またはその他導性粒子が存在
しないようにする必要があります。
メモ: この件は、デタセンタ環境と非デタセンタ環境に適
用されます。
腐食性ダスト
中に腐食性ダストが存在しないようにする必要があります。
中の留ダストは、潮解点が相対湿 60% である必要があ
ります。
メモ: この件は、デタセンタ環境と非デタセンタ環境に適
用されます。
21. ガス汚染物質の仕
ガス汚染物
銅クポン腐食度 クラス G1ANSI/ISA71.04-2013 の定義による)に準じ、ひと月あたり
300 Å
銀クポン腐食度 ANSI/ISA71.04-2013 の定義に準じ、ひと月あたり 200 Å
メモ: 50% 以下の相対湿度で測定された最大腐食汚染レベル
14 詳細