Owners Manual

動作時度減定格
最高 35 °C95 °F 950 m3,117 フィト)を越える高度では、最高度は 300 m984.25
ト)ごとに 1°C33.8°F)低くなります。
3540 °C95104 °F 950 m3,117 フィト)を越える高度では、最高度は 175 m574.14 フィ
ト)ごとに 1°C1°F)低くなります。
4045 °C104113 °F 950 m3,117 フィト)を越える高度では、最高度は 125 m410.1 フィ
ト)ごとに 1°C1°F)低くなります。
動作時の
動作時の
継続動作 対湿 585%、露点 29°C で、540°C
メモ: 標準動作10~35°Cの範外では、下は 5°C まで、上は
40°C までで、システムは継続的に動作できます。
3540°C の場合、950 m を超える場所では 175 m319 フィト)上昇
するごとに最大許容度を 1°C1°F)下げます。
年間動作時間の 1 セント以下 対湿 590 セント、露点 29°C で、–545°C
メモ: 標準動作度範1035°C外で使用する場合は、最大年間
動作時間の最大 1% まで –545°C の範で動作することができま
す。
4045°C の場合、950 m を超える場所では 125 m228 フィト)上昇
するごとに最大許容度を 1°C1°F 下げます。
メモ: 動作時の度範で使用すると、システムのパフォマンスに影響が生じる場合があります。
メモ: 度範でシステムを使用しているときに、LCD パネルとシステムイベント ログに周囲温度警告が報告される場合
があります。
動作時の度範する制約
5°C でコルドブトを行わないでください。
動作度は最大高度 3050 m10,000 フィト)を想定しています。
150 W/8 コア、165 W/12 コアおよびそれ以上のワットのプロセッサTDP(熱設計電力)> 165 W]はサポトされませ
ん。
冗長電源ユニットが必要です。
Dell EMC 認定外の周機器カドおよび/または 25 W を超える周機器カドは非対応です。
PCIe SSD は非対応です。
バックアップ ユニットはサポトされません。
粒子およびガス汚染物質の仕
本項では、粒子およびガスの汚染物質による機器の損傷、または故障を回避するために役立つ制限を定義しています。粒子
またはガスの汚染物質物のレベルが指定された制限を超え、その結果として機器が損傷または故障した場合は、環境件の是正
が必要になる可能性があります。環境件の改善はお客の責任となります。
粒子汚染
気清浄 タセンタの空気清浄レベルは、ISO 14644-1 ISO クラス 8 の定義に準じて、95
上限信限界です。
メモ: ISO クラス 8 件は、タセンタ環境にのみ適用されます。この空ろ過要
件は、事務所や工場現場などのデタセンタ外での使用のために設計された IT 装置
には適用されません。
技術仕 19