Users Guide
Temperatursonde der CMC-Umgebung den Schwellenwert überschreitet, wird sich die Geschwindigkeit der
Gehäuselüfter erhöhen.
Anzeigen der Speicherkapazität und des Status
der Storage-Komponenten
Um die Kapazität und den Fehlertoleranzstatus der Speicherkomponenten anzuzeigen, führen Sie einen der folgenden Schritte aus:
1. Gehen Sie zu Chassis Overview.
Die Seite Gehäuse-Funktionszustand wird angezeigt. Informationen zu Speicherkapazitätsdetails, zum Fehlertoleranzmodus (Aktiv/
Passiv) und zum Fehlertoleranzstatus (Aktiviert) werden im rechten Fenster angezeigt. Diese Fehlertoleranzinformationen werden nur
angezeigt, wenn die Fehlertoleranzfunktion für die Speicherkomponenten aktiviert ist.
Der untere Abschnitt der Gehäusegrafiken stellt die linke Anzeige des Gehäuses dar. Schieben Sie den Mauszeiger über die Untergrafik
der Speicherkomponente. Der Texthinweis liefert zusätzliche Informationen zu den Speicherkomponenten. Klicken Sie auf die
Untergrafik für die Speicherkomponente, um die Informationen im rechten Fensterbereich anzuzeigen.
2. Klicken Sie alternativ im linken Fensterbereich auf Gehäuseübersicht > Speicher > Eigenschaften > Status.
Die Speicherübersicht wird mit den folgenden Informationen angezeigt:
• Die graphische Übersicht der physischen Festplattenlaufwerke, die im Gehäuse installiert sind und deren Status anzeigen.
• Die Zusammenfassung aller Speicherkomponenten mit Links zu deren entsprechenden Seiten anzeigen.
• Die verwendete Kapazität und die Gesamtkapazitätof der Speicher anzeigen.
• Controller-Informationen anzeigen.
ANMERKUNG:
Im Falle eines Fehlertoleranz-Controllers wird das folgende Format verwendet:
<Gemeinsam
genutzte PERC-Nummer
> (Integrierte <Nummer>). Beispiel: Der aktive Controller ist „Gemeinsam genutzter
PERC8“ (Integrierter 1), und der Peer-Controller ist „Gemeinsam genutzter PERC8“ (Integrierter 2).
• Vor kurzem protokolliere Speicherereignisse anzeigen.
ANMERKUNG: Weitere Informationen finden Sie in der
Online-Hilfe
.
78 Gehäuseinformationen anzeigen und Funktionszustandsüberwachung von Gehäuse und individuellen Komponenten