User Manual

Pro WS sTR5 系列 BIOS 使用手冊
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以下項目只有在 Target Static Lane Control 設為 [Enabled] 時才會出現。
Target Static Lane Select Upper 32 bits
上位 32 位元的靜態通道選擇。位元遮罩代表要讀取的位元。
設定值有：[0] - [99999999]
Target Static Lane Select Lower 32 bits
下位 32 位元的靜態通道選擇。位元遮罩代表要讀取的位元。
設定值有：[0] - [99999999]
Target Static Lane Select ECC
ECC Lane 的靜態通道選擇。位元遮罩代表要讀取的位元。
設定值有：[0] - [9]
Target Static Lane Value
設定值有：[0] - [9]
Worst Case Margin Granularity
設定值有：[Per Chip Select] [Per Nibble]
Read Voltage Sweep Step Size
本項目可以設定讀取資料眼電壓掃描的步長。設定值有：[1] [2] [4]
Read Timing Sweep Step Size
本項目支援讀取資料眼的步長。
設定值有：[1] [2] [4]
Write Voltage Sweep Step Size
本項目可以設定寫入資料眼電壓掃描的步長。設定值有：[1] [2] [4]
Write Timing Sweep Step Size
本項目支援寫入資料眼的步長。設定值有：[1] [2] [4]
Memory Healing BIST
本項目可以啟用全面記憶體測試。此測試將會增加開機時間。BIOS 記
憶體 BIST 在訓練後測試全部記憶體。依 PPC 設定，將使用軟體或硬體
PPR 修復失效記憶體。每 16GN 安裝記憶體的測試需要 3 分鐘時間。
當裝置支援此功能時，Self-Healing BIST 將會執行 JEDEC DRAM 自我
修復。DRAM 將對失效的記憶體進行硬修復。測試每個通道的每個記憶
體等級需 10 秒鐘時間。設定值有：[Disabled] [BIOS Mem BIST] [Self-
Healing Mem BIST] [BIOS and Self-Healing Mem BIST]
以下項目只有在 Memory Healing BIST 設為 [BIOS Mem BIST] 時才會出
現。
Mem BIST Test Select
選擇供應商特定測試以使用 BIOS 記憶體修復 BIST。
設定值有：[Vendor Tests Enabled] [Vendor Tests Disabled] [All Tests -
All Vendors]
Mem BIST Post Package Repair Type
針對在 BIOS 記憶體修復 BIST 裡發現的 DRAM 錯誤選擇修復類型，
包括軟體、硬體和僅供測試不嘗試修復。
設定值有：[Soft Repair] [Hard Repair] [No Repairs - Test only]