User Manual

3-30
第三章：BIOS 程序設置
Target Static Lane Select Upper 32 bits [0]
設置值有：[0] - [99999999]
Target Static Lane Select Lower 32 bits [0]
設置值有：[0] - [99999999]
Target Static Lane Select ECC [0]
設置值有：[0] - [9]
Target Static Lane Value [0]
設置值有：[0] - [9]
Worst Case Margin Granularity [Per Chip Select]
設置值有：[Per Chip Select] [Per Nibble]
Read Voltage Sweep Step Size [1]
設置值有：[1] [2] [4]
Read Timing Sweep Step Size [1]
設置值有：[1] [2] [4]
Write Voltage Sweep Step Size [1]
設置值有：[1] [2] [4]
Write Timing Sweep Step Size [1]
設置值有：[1] [2] [4]
Memory Healing BIST [Disabled]
本項目可以啟用完整內存測試，將會增加啟動時間。BIOS 內存內置自我測試
會在訓練後測試所有內存。失效的內存會根據 PPC 設置，經由軟 PPR 或硬 PPR
修復。每 16GN 的內存需 3 分鐘測試時間。若裝置支持時，自我修復 BIST 將
會運行 JEDEC DRAM。失效的內存將會進行硬修復。每個通道上的每個 Rank
需 10 秒鐘的時間進行測試。設置值有：[Disabled] [BIOS Mem BIST] [Self-
Healing Mem BIST] [PMU Mem BIST] [BIOS and Self-Healing Mem BIST] [BIOS
and PMU Mem BIST] [PMU and Self-Healing Mem BIST] [BIOS and PMU Self-
Healing Mem BIST]
以下項目僅當 Target Static Lane Control 設置為 [Enabled] 時才會出
現。
Mem BIST Test Select [Vendor Tests Enabled]
選擇廠商以指定測試使用 BIOS 內存修復 BIST。設置值有：[Vendor Tests
Enabled] [Vendor Tests Disabled] [All Tests - All Vendors]
Mem BIST Post Package Repair Type [Soft Repair]
在 BIOS 內存內置自我測試中發現錯誤時，可選擇修復類型、軟、硬，或是僅
進行測試不嘗試修復。設置值有：[Soft Repair] [Hard Repair] [No Repairs - Test
only]
以下項目僅當 Memory Healing BIST 設置為 [BIOS Mem BIST] 或 [BIOS
and Self-Healing Mem BIST] 時才會出現。