User Manual

華碩 ESC N4A-E11 使用手冊
3-31
Target Static Lane Value [0]
設定值有：[0] - [9]
Worst Case Margin Granularity [Per Chip Select]
設定值有：[Per Chip Select] [Per Nibble]
Read Voltage Sweep Step Size [1]
設定值有：[1] [2] [4]
Read Timing Sweep Step Size [1]
設定值有：[1] [2] [4]
Write Voltage Sweep Step Size [1]
設定值有：[1] [2] [4]
Write Timing Sweep Step Size [1]
設定值有：[1] [2] [4]
Memory Healing BIST [Disabled]
本項目可以啟用完整記憶體測試，將會增加開機時間。BIOS 記憶體內建自我
測試會在訓練後測試所有記憶體。失效的記憶體會根據 PPC 設定，經由軟 PPR
或硬 PPR 修復。每 16GN 的記憶體需 3 分鐘測試時間。若裝置支援時，自我修
復 BIST 將會執行 JEDEC DRAM。失效的記憶體將會進行硬修復。每個通道上的
每個 Rank 需 10 秒鐘的時間進行測試。設定值有：[Disabled] [BIOS Mem BIST]
[Self-Healing Mem BIST] [BIOS and Self-Healing Mem BIST]
Mem BIST Test Select [Vendor Tests Enabled]
選擇廠商以指定測試使用 BIOS 記憶體修復 BIST。設定值有：[Vendor Tests
Enabled] [Vendor Tests Disabled] [All Tests - All Vendors]
Mem BIST Post Package Repair Type [Soft Repair]
在 BIOS 記憶體內建自我測試中發現錯誤時，可選擇修復類型、軟、硬，或是
僅進行測試不嘗試修復。設定值有：[Soft Repair] [Hard Repair] [No Repairs - Test
only]
NBIO Common Options
IOMMU [Auto]
本項目可以啟用或關閉 IOMMU。設定值有：[Disabled] [Enabled] [Auto]
DMAr Support [Auto]
本項目可以啟用 DMAr 支援。設定值有：[Disable] [Enable] [Auto]
ACS Enable [Auto]
需啟用 AER 才能使 ACS 啟用並運作。設定值有：[Disable] [Enable] [Auto]
以下項目僅當 Enable AER Cap 設定為 [Auto] 或 [Enable] 時才會出現。
以下項目僅當 Memory Healing BIST 設定為 [BIOS Mem BIST] 時才會出
現。