User Manual

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華碩 ESC N4A-E11 使用手冊
Mem BIST Test Select [Vendor Tests Enabled]
選擇廠商以指定測試使用 BIOS 內存修復 BIST。設置值有:[Vendor Tests
Enabled] [Vendor Tests Disabled] [All Tests - All Vendors]
Mem BIST Post Package Repair Type [Soft Repair]
BIOS 內存內置自我測試中發現錯誤時,可選擇修復類型、軟、硬,或是僅
進行測試不嘗試修復。設置值有:[Soft Repair] [Hard Repair] [No Repairs - Test
only]
NBIO Common Options
IOMMU [Auto]
本項目可以啟用或關閉 IOMMU。設置值有:[Disabled] [Enabled] [Auto]
DMAr Support [Auto]
本項目可以啟用 DMAr 支持。設置值有:[Disable] [Enable] [Auto]
ACS Enable [Auto]
需啟用 AER 才能使 ACS 啟用並運行。設置值有:[Disable] [Enable] [Auto]
以下項目僅當 Enable AER Cap 設置為 [Auto] 或 [Enable] 時才會出現。
以下項目僅當 Memory Healing BIST 設置為 [BIOS Mem BIST] 時才會出
現。
Target Static Lane Value [0]
設置值有:[0] - [9]
Worst Case Margin Granularity [Per Chip Select]
設置值有:[Per Chip Select] [Per Nibble]
Read Voltage Sweep Step Size [1]
設置值有:[1] [2] [4]
Read Timing Sweep Step Size [1]
設置值有:[1] [2] [4]
Write Voltage Sweep Step Size [1]
設置值有:[1] [2] [4]
Write Timing Sweep Step Size [1]
設置值有:[1] [2] [4]
Memory Healing BIST [Disabled]
本項目可以啟用完整內存測試,將會增加啟動時間。BIOS 內存內置自我測試
會在訓練後測試所有內存。失效的內存會根據 PPC 設置,經由軟 PPR 或硬 PPR
修復。每 16GN 的內存需 3 分鐘測試時間。若裝置支持時,自我修復 BIST 將會
運行 JEDEC DRAM。失效的內存將會進行硬修復。每個通道上的每個 Rank
10 秒鐘的時間進行測試。設置值有:[Disabled] [BIOS Mem BIST] [Self-Healing
Mem BIST] [BIOS and Self-Healing Mem BIST]